Исследование структуры ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на поверхности SiO2/Si(001)


2018

Балашев В. В., Коробцов В. В.

Статьи в журналах

Журнал технической физики

Россия. Санкт-Петербург: Наука

Том 88. № 1. С.75-79

С.75-79

0.956

0015-3222

Балашев В.В., Коробцов В.В. Исследование структуры ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на поверхности SiO2/Si(001) // Журнал технической физики. 2018. Т.88. № 1. С.75-79.

DOI: 10.21883/JTF.2018.01.45485.2314

JTP-88(1)-2018-75.pdf