Электрические и магнитные свойства ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на SiO2/Si(001)


2018

Балашев В. В., Коробцов В. В., К.С. Ермаков, Л.А. Чеботкевич

Статьи в журналах

Письма в журнал технической физики

Россия, Санкт-Петербург, "Наука"

Т. 44. Вып. 13. С. 88-95.

С. 88-95.

0..818

1.020

0320-0116

В.В. Балашев, К.С. Ермаков, Л.А. Чеботкевич, В.В. Коробцов. Электрические и магнитные свойства ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на SiO2/Si(001) // Письма в журнал технической физики. 2018. Т. 44. Вып. 13. С. 88-95.

Ультратонкие поликристаллические пленки Fe выращены на окисленной поверхности подложки Si(001). Проведено измерение удельного сопротивления и магнитного гистерезиса пленок Fe в диапазоне толщин от 2.5 до 10 nm. На основе анализа полученных данных сделан вывод, что при толщине ∼ 6 nm происходит переход к структурно-сплошной пленке. Обнаружено, что данный переход сопровождается появлением у зерен Fe в этой пленке преимущественной ориентации (111).

https://doi.org/10.21883/PJTF.2018.13.46332.17304

????-44N13-2018-88.pdf