Electrical and Magnetic Properties of Ultrathin Polycrystalline Fe Films Grown on SiO2/Si(001)


2018

Balashev V. ., K.S. Ermakov, L.A. Chebotkevich, V.V. Korobtsov

Article

Technical Physics Letters

Pleiades Publishing, Ltd.

Vol. 44, No. 7

pp.595–598

0.808

0320-0116

Ультратонкие поликристаллические пленки Fe были выращены на окисленной поверхности подложки Si(001). Проведено измерение удельного сопротивления и магнитного гистерезиса пленок Fe в диапазоне толщин от 2.5 до 10 nm. Из анализа полученных данных сделан вывод о том, что при толщине ~6 nm происходит переход к структурно-сплошной пленке. Обнаружено, что данный переход сопровождается появлением преимущественной (111) ориентации у зерен Fe в этой пленке

10.1134/S1063785018070040

http://journals.ioffe.ru/articles/46332

PJTF-44N13-2018-88.pdf