2023
Материалы / тезисы конференций
Т. 1. С. 93-100. ISBN 978-5-91812-231-0.
Грибова В.В., Шалфеева Е.А. Онтологические паттерны знаний по диагностике процессов // Двадцать первая Национальная конференция по искусственному интеллекту с международным участием, КИИ-2023 (Смоленск, 16-20 октября 2023г.). Труды конференции. В 2-х томах. – Смоленск: Принт-Экспресс, 2023. Т. 1. С. 93-100. ISBN 978-5-91812-231-0.
Онтологические паттерны являются инструментом снижения трудоемкости разработки интеллектуальных систем. В работе представлен паттерн для класса задач диагностики. Он содержит комплекс предметно-независимых семантических структур, универсальный диагностический решатель и средства адаптации предметно-независимой модели к специализированным, благодаря чему формирование экспертных знаний осуществляется в предметных терминах.