Исследование структуры ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на поверхности SiO2/Si(001)
Исследование структуры ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на поверхности SiO2/Si(001)
2018
Журнал технической физики, RSCI
Статьи в журналах
Журнал технической физики
Россия. Санкт-Петербург: Наука
Том 88. № 1. С.75-79
0.956
0015-3222
Балашев В.В., Коробцов В.В. Исследование структуры ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на поверхности SiO2/Si(001) // Журнал технической физики. 2018. Т.88. № 1. С.75-79.