Влияние стехиометрического состава поверхностной фазы Si(111)√21x√21-(Au,Ag) на электрическую проводимость подложки
Влияние стехиометрического состава поверхностной фазы Si(111)√21x√21-(Au,Ag) на электрическую проводимость подложки
2013
Физика и техника полупроводников, RSCI
Статьи в журналах
Физика и техника полупроводников
С.-Петербург, СПИФ "Наука" РАН
Т. 47, вып. 6
0015-3222; 1063-7826 (Eng)
Д.А. Цуканов, М.В. Рыжкова, Е.А. Борисенко. Влияние стехиометрического состава поверхностной фазы Si(111)√21x√21-(Au,Ag) на электрическую проводимость подложки. Физика и техника полупроводников, 2013, Т. 47, вып. 6, С.765-771