Меню
E-mail
RU
EN
Войти
Главная
Об институте
История института
Награды, премии, почетные звания
Академики, члены-корреспонденты РАН
О нас в СМИ
Документы
Реквизиты
Новости
Структура
Дирекция
Аппарат управления
Научные подразделения
Центры коллективного пользования
Научно-вспомогательные и производственные подразделения
Общественные организации
Контактная книга
Научная деятельность
Основные направления научных исследований
Научные проекты
Основные научные результаты
Интеллектуальная собственность
Международное сотрудничество
Проведение конференций
Конкурсы
Постоянно действующие семинары
Объявления о проводимых научных мероприятиях
Список публикаций
Ученый совет
Диссертационные советы
Объявления о защите
Диссертационный совет 24.1.027.01
Диссертационный совет 24.1.027.02
Объединенный диссертационный совет 99.0.073.03
Диссертации, подготовленные к представлению
Аспирантура
Специальности подготовки научных кадров в аспирантуре ИАПУ ДВО РАН
Междисциплинарная кафедра подготовки кадров высшей квалификации
Прием в аспирантуру
Прием в целевую аспирантуру
Список аспирантов (на 1 октября 2024 года)
Противодействие коррупции
Нормативные правовые и иные акты в сфере противодействия коррупции
Методические материалы
Формы документов, связанных с противодействием коррупции, для заполнения
Статистическо-финансовая отчетность ИАПУ ДВО РАН
Комиссия по соблюдению требований к служебному поведению и урегулированию конфликта интересов
Обратная связь для сообщений о фактах коррупции
Китань Сергей Андреевич
Должность:
старший инженер-электроник
Подразделение:
Лаборатория оптики и электрофизики (№105)
Кабинет:
321
Email:
kitan@iacp.dvo.ru
Публикации:
2018
Материалы / тезисы конференций
Статьи в журналах
2018. Gouralnik A. S. et al. Formation of Mg2Si at high temperatures by fast deposition of Mg on Si (111) with wedge-shaped temperature distribution //Applied Surface Science. – 2018. – Т. 439. – С. 282-284.
2018. Goroshko D. et al. Photoconductivity and conductivity processes in Si-Sn films grown on Si (100) substrate at room temperature //Defect and Diffusion Forum. – Trans Tech Publications Ltd, 2018. – Т. 386. – С. 95-101.