Меню
E-mail
RU
EN
Login
Main
About institute
History notes
Награды, премии, почетные звания
Академики, члены-корреспонденты РАН
Video
Документы
Organization details
News
Structure
Management
Management department
Science departments
Multiple Access Centers
Support departments
Public organizations
People
Science
Main research areas
Research projects
Main results
Practical results
Conferences
Competitions
Seminars
Announcements of scientific events
Список публикаций
Academic Council
Dissertations
Объявления о защите
005.007.01
005.007.02
See Russian version.
Theses prepared for submission
Postgraduate
Fields of study
Междисциплинарная кафедра подготовки кадров высшей квалификации
Admission to the postgraduate
Прием в целевую аспирантуру
Список аспирантов (на 9 января 2025 года)
Противодействие коррупции
Нормативные правовые и иные акты в сфере противодействия коррупции
Методические материалы
Формы документов, связанных с противодействием коррупции, для заполнения
Статистическо-финансовая отчетность ИАПУ ДВО РАН
Комиссия по соблюдению требований к служебному поведению и урегулированию конфликта интересов
Обратная связь для сообщений о фактах коррупции
Shmirko Konstantin Alexandrovich
Degree:
PhD (Phys.-Math.)
Position:
senior scientific employee
Department:
Лаборатория лазерных методов исследования вещества (№23)
Room:
230
Phone:
Internal Phone:
3-06
Email:
kshmirko@iacp.dvo.ru
Publications:
2018
2017
2015
2012
Article
Tezis
2017. Shmirko, K. A., Konstantinov, O. G.,Yu.N. Kulchin, S.Yu. Stolyarchuk, A.N. Pavlov, M.Yu. Korenskii Modeling optical contrast for thin organic films on the sea surface // Izvestiya atmospheric and oceanic physics. 2017. Vol.53. №3. P.373–381.
2015. On measurements of aerosol–gas composition of the atmosphere during two expeditions in 2013 along Northern Sea Route
2012.
2018. A.A. Ilyin, S.S. Golik, K.A. Shmirko, A.Yu. Mayor, D.Yu. Proschenko and Yu.N. Kulchin, Broadening and shift of emission lines in a plasma of filaments generated by a tightly focused femtosecond laser pulse in air, Quantum Electronics, 2018, 48:2, 149–156