Влияние стехиометрического состава поверхностной фазы Si(111)√21x√21-(Au,Ag) на электрическую проводимость подложки


2013

Борисенко Е. А., Рыжкова М. В., Цуканов Д. А.

Статьи в журналах

Физика и техника полупроводников

С.-Петербург, СПИФ "Наука" РАН

Т. 47, вып. 6

С.765-771

0015-3222; 1063-7826 (Eng)

Д.А. Цуканов, М.В. Рыжкова, Е.А. Борисенко. Влияние стехиометрического состава поверхностной фазы Si(111)√21x√21-(Au,Ag) на электрическую проводимость подложки. Физика и техника полупроводников, 2013, Т. 47, вып. 6, С.765-771

http://journals.ioffe.ru/ftp/2013/06/page-765.html.ru
http://dx.doi.org/10.1134/S1063782613060298